EN IEC 63373:2022-03

Nahaufnahme einer Computer-Platine
photocrew / Fotolia

Richtlinien für Prüfverfahren des dynamischen Einschaltwiderstandes bei GaN-

HEMT-Leistungswandlern

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Enthält:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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10.02.2022 Aktuell
IEC 63373:2022-02
Richtlinien für Prüfverfahren des dynamischen Einschaltwiderstandes bei GaN-HEMT-Leistungswandlern

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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02.04.2021 Historisch
prEN IEC 63373:2021-04
Richtlinien für Prüfverfahren des dynamischen Einschaltwiderstandes bei GaN-HEMT-Leistungswandlern

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN IEC 63373:2022-03

IEC 63373:2022-02

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
25.03.2022
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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