prEN IEC 63287-2:2021-10

Nahaufnahme einer Computer-Platine
photocrew / Fotolia

Halbleiterbauelemente -

Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne Teil 2: Konzept des Einsatzprofils

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Enthält:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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01.10.2021 Historisch
47/2718/CDV:2021-10
Halbleiterbauelemente - Richtlinien für Zuverlässigkeitsqualifizierungspläne - Teil 2: Konzept des Einsatzprofils

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

prEN IEC 63287-2:2021-10

47/2718/CDV:2021-10
??????
Dokumentart
Entwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.10.2021
Bereitstellungsdatum
04.10.2021
Einspruchsfrist
10.12.2021
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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