EN IEC 63185:2021-01

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme von optischen Fasern
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08.12.2020 Aktuell
IEC 63185:2020-12
Messung der komplexen Dielektrizitätskonstante für verlustarme dielektrische Substrate nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren

Entwurf war:

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25.09.2020 Historisch
FprEN IEC 63185:2020-09
Verfahren mit symmetrischem Kreisscheibenresonator zur Messung der komplexen Permittivität von verlustarmen dielektrischen Substraten

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN IEC 63185:2021-01

IEC 63185:2020-12

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
22.01.2021
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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