FprEN IEC 60749-41:2020-05

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen

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Enthält:

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15.05.2020 Historisch
47/2631/FDIS:2020-05
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen

Entwurf war:

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23.08.2019 Historisch
prEN IEC 60749-41:2019-08
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen

Dieses Dokument entspricht:

??????
Dokumentart
Schlussentwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
15.05.2020
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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