Der vorliegende Teil der IEC 61280 legt zwei Hauptverfahren zur Ermittlung von geringen Bitfehlerraten durch beschleunigte Messungen fest. Dabei handelt es sich um das Verfahren mit variabler Entscheidungsschwelle (Hauptabschnitt 5) und das Verfahren mit variabler optischer Schwelle (Hauptabschnitt 6). Darüber hinaus wird im Anhang B ein drittes Verfahren, das Sinus-Interferenzverfahren, beschrieben.
Zuständig ist das DKE/UK 412.2 "Komponenten für Kommunikationskabelanlagen" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
