Hochfrequente Aussendungen integrierter Schaltungen können zur Beeinflussung der immer empfindlicher werdenden elektronischen Bauteile und Systeme, zu Fehlfunktionen oder deren Ausfällen führen. Um diese Gefährdungen der elektronischen Steuerungen von Geräten, Anlagen und Einrichtungen zu vermeiden, ist es erforderlich einheitliche Prüfungen festzulegen, um die elektromagnetischen Störungen von integrierten Schaltungen zu messen. Dies ist auch für die Vergleichbarkeit von geforderten Werten unerlässlich.
Dieser Teil von DIN EN 61967 (VDE 0847-21) legt ein Verfahren zur Messung der leitungsgeführten elektromagnetischen Aussendung (EME) von integrierten Schaltungen durch direkte Messung des hochfrequenten Stromes mit einem 1-Ohm-Tastkopf und Messung der HF-Spannung unter Anwendung eines 150-Ohm-Kopplungsnetzwerkes fest. Diese Verfahren stellen eine hohe Wiederholpräzision und Vergleichbarkeit der EME-Messungen sicher. Allgemeine Bedingungen und Definitionen werden Teil 1 dieser Normenreihe entnommen.
Gegenüber der DIN EN 61967-4:2006-07 sind folgende Änderungen vorgesehen: Einschränkungen des Frequenzbereiches für die gesamte Normenreihe werden aufgehoben und aus dem Titel entfernt, die für das 1-Ohm-Verfahren empfohlenen Frequenz soll auf 30 MHz verringert werden. Die Norm wird dann unter der VDE Klassifikation 0847-21-4 in das VDE Vorschriftenwerk aufgenommen.
Zuständig ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.
