EN IEC 62969-4:2018-08

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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Halbleiterbauelemente -

Halbleiterschnittstelle für Automobile Teil 4: Bewertungsverfahren für Datenschnittstellen bei Automobil-Sensoren

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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18.06.2018 Aktuell
IEC 62969-4:2018-06
Halbleiterbauelemente - Halbleiterschnittstelle für Automobile - Teil 4: Bewertungsverfahren für Datenschnittstellen bei Automobil-Sensoren

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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30.03.2018 Historisch
FprEN IEC 62969-4:2018-03
Halbleiterbauelemente - Halbleiterschnittstelle für Automobile - Teil 4: Bewertungsverfahren für Datenschnittstellen bei Automobil-Sensoren

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
24.08.2018
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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