EN IEC 60749-13:2018-04

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 13: Salzatmosphäre

Beziehungen

Ersatz für:

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16.08.2002 Historisch
EN 60749-13:2002-08
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosphäre

Enthält:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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15.02.2018 Aktuell
IEC 60749-13:2018-02
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosphäre

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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24.11.2017 Historisch
FprEN 60749-13:2017-11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosphäre

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
13.04.2018
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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