EN 61745:2017-10

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Endflächen-

Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
28.07.2017 Aktuell
IEC 61745:2017-07
Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern

Entwurf war:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
27.01.2017 Historisch
prEN 61745:2017-01
Endflächen-Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 61745:2017-10

IEC 61745:2017-07

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
20.10.2017
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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