IEC 61745:2017-07

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Endflächen-

Bildanalyseverfahren für die Kalibrierung von Prüfeinrichtungen für die Geometrie von Lichtwellenleitern

Beziehungen

Ersatz für:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
01.08.1998 Historisch
IEC 61745:1998-08
Endflächen-Bildanalyseverfahren zur Kalibrierung von Lichtwellenleiter-Geometrie-Prüfanordnungen

Entwurf war:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
05.05.2017 Historisch
86/516/RVC:2017-05

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61745:2017-07
Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
28.07.2017
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 412
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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