EN 60749-43:2017-09

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 43: Leitfaden Pläne zur Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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19.06.2017 Historisch
IEC 60749-43:2017-06
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden Pläne zur Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
photocrew / Fotolia
14.04.2017 Historisch
FprEN 60749-43:2017-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden zur Planung der Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.09.2017
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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