EN 62496-2:2017-09

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Optische Leiterplatten -

Grundlegende Prüf- und Messverfahren Teil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
24.05.2017 Aktuell
IEC 62496-2:2017-05
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten

Entwurf war:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
20.01.2017 Historisch
prEN 62496-2:2017-01
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - eil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 62496-2:2017-09

IEC 62496-2:2017-05

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
22.09.2017
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

DKE Newsletter-Seitenbild
sdx15 / stock.adobe.com

Mit unserem DKE Newsletter sind Sie immer top informiert! Monatlich ...

  • fassen wir die wichtigsten Entwicklungen in der Normung kurz zusammen
  • berichten wir über aktuelle Arbeitsergebnisse, Publikationen und Entwürfe
  • informieren wir Sie bereits frühzeitig über zukünftige Veranstaltungen
Ich möchte den DKE Newsletter erhalten!

Werden Sie aktiv!

Ergebnisse rund um die Normung