EN 62496-2:2017-09

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Optische Leiterplatten -

Grundlegende Prüf- und Messverfahren Teil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten

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Enthält:

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24.05.2017 Aktuell
IEC 62496-2:2017-05
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten

Entwurf war:

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20.01.2017 Historisch
prEN 62496-2:2017-01
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - eil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 62496-2:2017-09

IEC 62496-2:2017-05

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
22.09.2017
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

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Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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