IEC 62496-2:2017-05

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Optische Leiterplatten -

Grundlegende Prüf- und Messverfahren Teil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten

Beziehungen

Entwurf war:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
21.04.2017 Historisch
86/515/RVC:2017-04

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 62496-2:2017-05

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
24.05.2017
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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