47/2362/FDIS:2017-01

Nahaufnahme einer Computer-Platine
photocrew / Fotolia

Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level

Beziehungen

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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02.12.2016 Historisch
47/2340/RVC:2016-12

Dieses Dokument entspricht:

International

47/2362/FDIS:2017-01

Dokumentart
Schlussentwurf zur Abstimmung
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
13.01.2017
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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