EN 60749-44:2016-10

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen

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Enthält:

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21.07.2016 Aktuell
IEC 60749-44:2016-07
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen

Entwurf war:

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20.05.2016 Historisch
FprEN 60749-44:2016-05
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 60749-44:2016-10

IEC 60749-44:2016-07
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
21.10.2016
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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