IEC 60749-44:2016-07
Halbleiterbauelemente -
Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen
Halbleiterbauelemente -
Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 44: Prüfverfahren zur Einzelereignis-Effekt-Neutronenbestrahlung von Halbleiterbauelementen
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