IEC 62047-26:2016-01

Nahaufnahme einer Computer-Platine
photocrew / Fotolia

Halbleiterbauelemente -

Bauelemente der Mikrosystemtechnik Teil 26: Beschreibung und Messverfahren für Mikro-Rillen und Nadelstrukturen

Beziehungen

Entwurf war:

Nahaufnahme einer Computer-Platine
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18.12.2015 Historisch
47F/239/RVD:2015-12

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 62047-26:2016-01

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
07.01.2016
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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