DIN IEC/TS 62622 DIN SPEC 42622:2014-09

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Nanotechnologien -

Beschreibung, Messung und dimensionale Qualitätsparameter von künstlichen Gittern (IEC/TS 62622:2012)

Kurzdarstellung

Die vorliegende technische Spezifikation legt eine generische Terminologie für die globalen und lokalen Qualitätsparameter von künstlichen Gittern, die als Abweichungen von den nominalen Positionen der Gitterstrukturen anzusehen sind, fest. Das Dokument bietet auch eine Anleitung dafür, wie die Mess- und Auswertemethoden zur Bestimmung dieser Parameter kategorisiert werden können.
Diese Spezifikation soll die Kommunikation zwischen Herstellern, Anwendern und Kalibrierlaboratorien, die sich mit der Charakterisierung der dimensionalen Qualitätsparameter von künstlichen Gittern in der Nanotechnologie beschäftigen, erleichtern.
Diese Spezifikation unterstützt die Qualitätssicherung bei der Produktion und dem Einsatz von künstlichen Gittern in verschiedenen Anwendungsbereichen der Nanotechnologie. Während die Definitionen und beschriebenen Methoden universell für eine große Bandbreite verschiedener Gitter anwendbar sind, liegt der Schwerpunkt auf den eindimensionalen und zweidimensionalen Gittern.

Zuständig ist das DKE/K 141 "Nanotechnologie" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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02.10.2012 Aktuell
IEC TS 62622:2012-10
Nanotechnologie – Beschreibung, Messung und dimensionale Qualitätsparameter von künstlichen Gittern

Entwurf war:

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01.07.2011 Historisch
E DIN IEC 62622:2011-07
Nanotechnologie - Beschreibung, Messung und dimensionale Qualitätsparameter von künstlichen Gittern (IEC 113/102/CD:2011)

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Vornorm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.09.2014
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Elena Rongen
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

v2v4r.854xv4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-429

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