FprEN 62047-22:2014-03

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Halbleiterbauelemente -

Bauelemente der Mikrosystemtechnik Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten

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Enthält:

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14.03.2014 Historisch
47F/186/FDIS:2014-03
IEC 62047-22 Ed.1: Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten

Dieses Dokument entspricht:

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Dokumentart
Schlussentwurf Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
14.03.2014
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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