EN 62496-2-4:2013-08

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Optische Leiterplatten -

Grundlegende Prüf- und Messverfahren Teil 2-4: Optische Übertragungsprüfung für optische Leiterplatten ohne Eingangs-/Ausgangsfasern

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme von optischen Fasern
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18.06.2013 Aktuell
IEC 62496-2-4:2013-06

Entwurf war:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
29.03.2013 Historisch
FprEN 62496-2-4:2013-03
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-4: Optische Übertragungsprüfung für optische Leiterplatten ohne Eingangs-/Ausgangsfasern

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 62496-2-4:2013-08

IEC 62496-2-4:2013-06
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
30.08.2013
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/UK 412.2
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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