EN 61788-17:2013-04

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Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik - Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

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Enthält:

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16.01.2013 Historisch
IEC 61788-17:2013-01
Supraleitfähigkeit - Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik – Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

Entwurf war:

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12.10.2012 Historisch
FprEN 61788-17:2012-10
Supraleitfähigkeit - Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik – Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

Ersetzt bzw. ergänzt:

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11.06.2021 Aktuell
EN IEC 61788-17:2021-06
Supraleitfähigkeit - Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik - Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 61788-17:2013-04

IEC 61788-17:2013-01
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
05.04.2013
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 184
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

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