IEC 61788-17:2013-01

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Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik – Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

Beziehungen

Entwurf war:

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21.12.2012 Historisch
90/319/RVD:2012-12

Ersetzt bzw. ergänzt:

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28.04.2021 Aktuell
IEC 61788-17:2021-04
Supraleitfähigkeit - Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik - Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61788-17:2013-01

Dokumentart
Publikation
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
16.01.2013
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

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