Diese Berichtigung 1 dient der Korrektur von Übersetzungsfehlern in der Deutschen Fassung der Europäischen Norm EN 61000-4-20:2010, welche die Internationale Norm IEC 61000-4-20:2010 übernimmt. Die Deutsche Fassung wurde als DIN EN 61000-4-20 (VDE 0847-4-20):2011-07 veröffentlicht. Sie gilt für die Messung der Störaussendung und die Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrich¬tungen) in Bezug auf hochfrequente elektromagnetische Felder, wobei verschiedene Arten von TEM-Wellen¬leitern (transversal elektromagnetisch, TEM) eingesetzt werden. Diese beinhalten offene Strukturen (z. B. Streifenleiter und EMP-Simulatoren) und geschlossene Strukturen (z. B. TEM-Zellen), die weiter in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden können.
Zuständig sind die UK 767.3 „Hochfrequente Störgrößen“ und UK 767.4 „Geräte und Verfahren zum Messen von elektromagnetischen Aussendungen“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
