E DIN EN 62047-20:2012-07

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Halbleiterbauelemente -

Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 20: Gyroskope (IEC 47F/122/CD:2012)

Kurzdarstellung

Die Normenreihe DIN EN 62047 legt u. a eine Reihe von Prüfverfahren für Bauelemente der Mikrosystemtechnik (MEMS) fest, mit denen diese Bauelemente hinsichtlich Ihrer Anwendbarkeit bewertet werden können.
Gyroskope werden hauptsächlich in Anwendungsbereichen für Endverbraucher, allgemeine Industrie und Luftfahrt eingesetzt. Die MEMS- und Halbleiterlaser-Technologien werden für die Herstellung von Gyroskopbauteilen in großem Umfang verwendet.
In diesem Teil der DIN EN 62047 sind Begriffe, Kenngrößen und Merkmale für Gyroskope festgelegt. Ferner werden Messverfahren für Skalenfaktor, Querachsenempfindlichkeit, Bias, Ausgangsrauschen, Frequenzband und Auflösung festgeschrieben.
Zuständig ist das K 631 „Halbleiterbauelemente“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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06.04.2012 Historisch
47F/122/CD:2012-04

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.07.2012
Bereitstellungsdatum
23.07.2012
Einspruchsfrist
30.09.2012
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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