DIN EN 62496-2-1:2012-06

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Optische Leiterplatten -

Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation (IEC 62496-2-1:2011); Deutsche Fassung EN 62496-2-1:2011

Kurzdarstellung

IEC 62496-2-1 beschreibt verschiedene Verfahren zur Messung der optischen Dämpfung und der Isolation von optischen Leiterplatten (en: Optical Circuit Board - OCB).
Die Norm gibt Herstellern und Prüflabors Sicherheit in der Definition der Prüfung und dient als Referenz in der Qualitätssicherung.
Zuständig ist das K 412 „Kommunikationskabel (Kabel, Leitungen, Wellenleiter, Lichtwellenleiter, Komponenten, Zubehör und Anlagentechnik für die Nachrichten- und Informationsübertragung)“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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23.09.2011 Aktuell
EN 62496-2-1:2011-09
Optische Leiterplatten - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation
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28.07.2011 Aktuell
IEC 62496-2-1:2011-07
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation - Teil 2-1: Messungen - Optische Dämpfung und Isolation

Entwurf war:

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01.03.2009 Historisch
E DIN IEC 62496-2-1:2009-03
Optische Leiterplatten - Teil 2-1: Messverfahren - Optische Dämpfung und Isolation (IEC 86/318/CD:2008)

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.06.2012
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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