DIN EN 62129-2:2012-03

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Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz -

Teil 2: Michelson-Interferometer-Einzelwellenlängen-Messgeräte (IEC 62129-2:2011); Deutsche Fassung EN 62129-2:2011

Kurzdarstellung

Dieser Teil von IEC 62129 gilt für Messgeräte zur Messung der Vakuumwellenlänge oder der optischen Frequenz, die von Quellen ausgesendet wird, die typisch für Industrieprodukte der Lichtwellenleiter-Übertragungstechnik sind. Zu diesen Quellen gehören Laserdioden mit verteilter Rückkopplung (DFB), Laser mit externem Resonator und longitudinal einmodige Lichtwellenleiterquellen. Es wird vorausgesetzt, dass die optische Strahlung mit einem Einmoden-Lichtwellenleiter in das Wellenlängenmessgerät eingekoppelt wird. Die vorliegende Norm beschreibt die Kalibrierung von Wellenlängenmessgeräten durch Kalibrierlabore oder Hersteller von Wellenlängenmessgeräten. Dieses Dokument ist Teil der Normenreihe IEC 62129 über die Kalibrierung von Wellenlängenmessgeräten/optischen Frequenzmessgeräten. Die Kalibrierung optischer Spektrumanalysatoren ist in IEC 62129 beschrieben.
Die Norm verweist auf die ISO/IEC Guides 98 und 99 und richtet sich an Hersteller und Anwender.
Zuständig ist das K 412 „Kommunikationskabel (Kabel, Leitungen, Wellenleiter, Lichtwellenleiter, Komponenten, Zubehör und Anlagentechnik für die Nachrichten- und Informationsübertragung)“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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08.07.2011 Aktuell
EN 62129-2:2011-07
Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 2: Michelson-Interferometer-Einzelwellenlängen-Messgeräte
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26.05.2011 Aktuell
IEC 62129-2:2011-05
Kalibrierung von Messgeräten für die Wellenlänge/optische Frequenz - Teil 2: Michelson-Interferometer- Einzelwellenlängen-Messgeräte - Teil 2: Michelson-Interferometer- Einzelwellenlängen-Messgeräte

Entwurf war:

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01.11.2009 Historisch
E DIN IEC 62129-2:2009-11
Kalibrierung von Wellenlängenmessgeräten/optischen Frequenzmessgeräten - Teil 2: Einzelwellenlängenmessgeräte auf der Basis des Michelson-Interferometers (IEC 86/344/CD:2009)

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.03.2012
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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