E DIN IEC 62496-3:2010-01

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Teil 3: Betriebsverhaltensnormen - Allgemeines und Leitfaden

Kurzdarstellung

Dieser Teil von IEC 62496 enthält allgemeine Angaben zu Betriebsverhaltensnormen für optische Leiterplatten. Er legt jene Prüfungen und Prüfschärfen fest, die Betriebsverhaltenskategorien oder die allgemeinen Betriebsumgebungen bilden und kennzeichnet jene Prüfungen, die als produktspezifisch angesehen werden. Genaue Angaben zur Prüfung und Prüfschärfe sind im Anhang A enthalten. IEC 62496-3 enthält auch Verweisungen, Definitionen und Regeln für die Erarbeitung einer Betriebsverhaltensnorm für optische Leiterplatten, und auch andere diesbezügliche Angaben. Die Norm richtet sich an Hersteller und Kunden dieser Produkte.
Die Norm referenziert die Normen der Reihe 61300 (Grundlegende LWL Meß- und Prüfverfahren).


Zuständig ist das K 412 „Kommunikationskabel (Kabel, Leitungen, Wellenleiter, Lichtwellenleiter, Komponenten, Zubehör und Anlagentechnik für die Nachrichten- und Informationsübertragung)“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

Nahaufnahme von optischen Fasern
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19.06.2009 Historisch
86/341/CD:2009-06

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.01.2010
Bereitstellungsdatum
01.2010
Einspruchsfrist
31.03.2010
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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