E DIN IEC 60749-38:2005-04

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 38: Soft-Error-Rate bei elektronischen Bauelementen

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Enthält:

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26.11.2004 Historisch
47/1796/CD:2004-11

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Entwurf
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.04.2005
Bereitstellungsdatum
01.04.2005
Einspruchsfrist
31.05.2005
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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