DIN EN 62562:2011-10

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Kurzdarstellung

Diese Norm beschreibt ein Messverfahren der dielektrischen Eigenschaften in Ebenenrichtung einer dielektrischen Platte bei Mikrowellenfrequenzen. Dieses Verfahren wird als Hohlraumresonanzverfahren bezeichnet. Es wurde für die Entwicklung neuer Werkstoffe und für die Konstruktion von aktiven und passiven Mikrowellenbauteilen erstellt, bei denen die Normung von Messverfahren für die Werkstoffeigenschaften zunehmend wichtiger wird.
Zuständig ist das UK 412.4 "Passive HF- und Mikrowellenbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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18.02.2011 Aktuell

EN 62562:2011-02

Hohlraumresonanzverfahren zum Messen der komplexen Permittivität von verlustarmen dielektrischen Platten

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18.02.2010 Aktuell

IEC 62562:2010-02

Hohlraumresonanzverfahren zum Messen der komplexen Permittivität von verlustarmen dielektrischen Platten

Entwurf war:

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01.08.2009 Historisch

E DIN EN 62562:2009-08

Verfahren mit Hohlraumresonator zur Messung der komplexen Permittivitätszahl von dielektrischen Platten mit niedrigen Verlusten (IEC 46F/118/CDV:2009); Deutsche Fassung FprEN 62562:2009