DIN EN 60191-6-21:2011-03
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Teil 6-21: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Gehäusezeichnungen von SMD-Halbleitergehäusen - Messverfahren für Gehäusemaße von kleinen Gehäusen (SOP)
Kurzdarstellung
Die Normenreihe DIN EN 60191-6 basiert auf entsprechenden Internationalen Normen der Reihe IEC 60191-6. Darin werden Regeln für Gehäusezeichnungen von oberflächenmontierbaren Halbleitergehäusen in den unterschiedlichen Gehäuse- und Anschlussausführungen vorgegeben, die beim computergestützten Design- und Fertigungsprozess Anwendung finden.
Dieser Teil von DIN EN 60191 (beinhaltet bzw.) legt Verfahren zur Bestimmung der Maße von kleinen Gehäusen (SOP) fest, die der Bauform E nach IEC 60191-4 entsprechen. Diese sind vor allem als TSOP- oder SSOP-Gehäuse im markt eingeführt.
Zuständig ist das UK 631.4 "Gehäuse für Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Dieser Teil von DIN EN 60191 (beinhaltet bzw.) legt Verfahren zur Bestimmung der Maße von kleinen Gehäusen (SOP) fest, die der Bauform E nach IEC 60191-4 entsprechen. Diese sind vor allem als TSOP- oder SSOP-Gehäuse im markt eingeführt.
Zuständig ist das UK 631.4 "Gehäuse für Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
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