DIN EN 50527-1 (VDE 0848-527-1):2011-01

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Teil 1: Allgemeine Festlegungen

Kurzdarstellung

Diese Norm enthält die Deutsche Fassung der Europäischen Norm EN 50527-1:2010 mit Festlegungen für die Beurteilung von Arbeitsplätzen im Hinblick auf die Sicherheit von Personen mit aktiven Implantaten in elektromagnetischen Feldern im Frequenzbereich von 0 Hz bis 300 GHz. Dieses, als horizontale EMF-Norm für den Schutz von Personen mit aktiven Implantaten fungierende Dokument dient der Umsetzung der Europäischen Arbeitsschutz-Richtlinie 2004/40/EG. Es ergänzt die Europäische Norm EN 50499:2008 um Festlegungen zum Schutz von Personen mit aktiven Implantaten. Es ist vorgesehen, die EN 50527-1 durch weitere implantatspezifische Normen zu ergänzen. Die in Frage kommenden Arbeitsplätze werden unterteilt in unkritische Arbeitsplätze, die aufgrund des Vorhandenseins von Geräten mit entsprechend begrenzter Feldabstrahlung keiner weiteren Beurteilung bedürfen, und in solche Arbeitsplätze, die einer weiteren Beurteilung bedürfen. Die Verfahren für die Beurteilung werden in dieser Norm festgelegt. Besondere elektromagnetische Umgebungen werden im Anhang C beschrieben. Der erste Schritt der Risikobewertung ist die Identifizierung der Arbeitnehmer mit aktiven Implantaten. Wenn Arbeitnehmer mit aktiven Implantaten festgestellt wurden, wird die Risikobewertung fortgeführt, indem die am Arbeitsplatz vorhandenen Geräte und Einrichtungen geprüft werden. Wenn Geräte und/oder Einrichtungen am Arbeitsplatz vorhanden sind, die nicht von vornherein als unkritisch angesehen werden, muss angenommen werden, dass die Werte der elektrischen, magnetischen oder elektromagnetischen Felder zu hoch sein können, um ein unbeeinflusstes (störungsfreies) Verhalten des aktiven implantierbaren medizinischen Geräts sicherzustellen. In diesem Fall muss eine spezielle Beurteilung entsprechend Anhang A der Norm durchgeführt werden. In Abhängigkeit vom Ergebnis der Beurteilung sind eventuelle Maßnahmen zum Schutz der betroffenen Personen zu veranlassen. Ferner werden Informationen zur Dokumentation der Risikobeurteilung gegeben. Hierfür verwendbare Formulare werden im Anhang B angeboten.
Zuständig ist das K 764 "Sicherheit in elektromagnetischen Feldern" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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23.04.2010 Historisch
EN 50527-1:2010-04
Verfahren zur Beurteilung der Exposition von Arbeitnehmern mit aktiven implantierbaren medizinischen Geräten (AIMD) gegenüber elektromagnetischen Feldern - Teil 1: Allgemeine Festlegungen

Entwurf war:

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01.03.2009 Historisch
E DIN EN 50527-1 (VDE 0848-527-1):2009-03
Beurteilung der Exposition von Personen mit aktiven implantierbaren medizinischen Geräten (AIMD) am Arbeitplatz gegenüber elektrischen, magnetischen und elektromagnetischen Feldern mit Frequenzen von 0 Hz bis 300 GHz - Teil 1: Allgemeine Festlegungen; Deutsche Fassung prEN 50527-1:2008

Ersetzt bzw. ergänzt:

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01.08.2016 Historisch
E DIN EN 50527-1 (VDE 0848-527-1):2016-08
Verfahren zur Beurteilung der Exposition von Arbeitnehmern mit aktiven implantierbaren medizinischen Geräten (AIMD) gegenüber elektromagnetischen Feldern - Teil 1: Allgemeine Festlegungen; Deutsche Fassung FprEN 50527-1:2016
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01.12.2017 Aktuell
DIN EN 50527-1 (VDE 0848-527-1):2017-12
Verfahren zur Beurteilung der Exposition von Arbeitnehmern mit aktiven implantierbaren medizinischen Geräten (AIMD) gegenüber elektromagnetischen Feldern - Teil 1: Allgemeine Festlegungen; Deutsche Fassung EN 50527-1:2016

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.01.2011
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Kai Jagielski
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

1rz.0rxzv291zQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-351

Referatsassistenz
Regine Kornetzky
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

8vxz4v.1584v_E1DQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-358

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