DIN EN 62007-2:2009-09

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia

Teil 2: Messverfahren

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 62007-2:2001-06 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) die Beschreibung, die sich auf analoge Kenndaten bezogen, sind entfernt worden;
b) einige Definitionen und Formel wurden überarbeitet und dadurch mit anderen Normen aus SC 86C harmonisiert.

Beziehungen

Ersatz für:

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01.06.2001 Historisch
DIN EN 62007-2:2001-06
Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen - Teil 2: Messverfahren (IEC 62007-2:1997 + A1:1998); Deutsche Fassung EN 62007-2:2000

Enthält:

Nahaufnahme von optischen Fasern
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13.03.2009 Aktuell
EN 62007-2:2009-03
Optoelektronische Halbleiterbauelemente für Anwendungen in Lichtwellenleitersystemen - Teil 2: Messverfahren
Nahaufnahme von optischen Fasern
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26.01.2009 Aktuell
IEC 62007-2:2009-01
Optoelektronische Halbleiterbauelemente für Anwendungen in Lichtwellenleitersystemen - Teil 2: Messverfahren - Teil 2: Messverfahren

Entwurf war:

Nahaufnahme von optischen Fasern
Pter Mcs / Fotolia
01.11.2007 Historisch
E DIN EN 62007-2:2007-11
Optoelektronische Halbleiterbauelemente für Anwendungen in Lichtwellenleitersystemen – Teil 2: Messverfahren (IEC 86C/771/CDV:2007); Deutsche Fassung prEN 62007-2:2007

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.09.2009
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Kontakt

Referat
Thomas Sentko
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

_y53r9.9v4_15QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-209

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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