DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2003-05

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Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierten Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren

Beziehungen

Enthält:

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29.10.2002 Historisch

EN 61788-10:2002-10

Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierten Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren

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24.06.2002 Historisch

IEC 61788-10:2002-06

Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierte Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren

Entwurf war:

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01.06.2001 Historisch

E DIN IEC 61788-10 (VDE 0390-10):2001-06

Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern (IEC 90/91/CD:2000)

Ersetzt bzw. ergänzt:

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01.05.2007 Aktuell

DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2007-05

Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren (IEC 61788-10:2006); Deutsche Fassung EN 61788-10:2006