DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2003-05

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Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierten Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren

Beziehungen

Enthält:

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29.10.2002 Historisch
EN 61788-10:2002-10
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierten Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren
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24.06.2002 Historisch
IEC 61788-10:2002-06
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierte Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren

Entwurf war:

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01.06.2001 Historisch
E DIN IEC 61788-10 (VDE 0390-10):2001-06
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern (IEC 90/91/CD:2000)

Ersetzt bzw. ergänzt:

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01.05.2007 Aktuell
DIN EN 61788-10 (VDE 0390-10):2007-05
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren (IEC 61788-10:2006); Deutsche Fassung EN 61788-10:2006

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.05.2003
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

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