DIN EN 60512-11-4:2003-01

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Steckverbinder für elektronische Einrichtungen -

Mess- und Prüfverfahren Teil 11-4: Klimatische Prüfungen - Prüfung 11d: Rascher Temperaturwechsel (Zweikammerverfahren)

Beziehungen

Ersatz für:

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01.05.1994 Historisch

DIN IEC 60512-6:1994-05

Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen; Meß- und Prüfverfahren; Teil 6: Klimatische Prüfungen und Prüfungen der Lötbarkeit; Identisch mit IEC 60512-6:1984

Enthält:

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19.04.2002 Aktuell

EN 60512-11-4:2002-04

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-4: Klimatische Prüfungen - Prüfung 11d: Rascher Temperaturwechsel (Zweikammerverfahren)

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01.02.2002 Aktuell

IEC 60512-11-4:2002-02

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 11-4: Klimatische Prüfungen - Prüfung 11d: Rascher Temperaturwechsel (Zweikammerverfahren)

Entwurf war:

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01.04.2000 Historisch

Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 11-4: Klimatische Prüfungen - Prüfung 11d: Rascher Temperaturwechsel (Zweikammerverfahren) (IEC 48B/841/CD:1999)