DIN EN 60512-4-3:2003-01

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Steckverbinder für elektronische Einrichtungen -

Mess- und Prüfverfahren Teil 4-3: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung - Prüfung 4c: Spannungsfestigkeit vorisolierter Crimphülsen;

Beziehungen

Ersatz für:

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01.05.1994 Historisch

DIN IEC 60512-2:1994-05

Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen; Meß- und Prüfverfahren; Teil 2: Allgemeine Untersuchungen, Prüfungen des elektrischen Durchganges und Durchgangswiderstandes, Prüfung der Isolation und Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung; Identisch mit IEC 60512-2:1985

Enthält:

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19.04.2002 Aktuell

EN 60512-4-3:2002-04

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-3: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung - Prüfung 4c: Spannungsfestigkeit vorisolierter Crimphülsen

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28.02.2002 Aktuell

IEC 60512-4-3:2002-02

Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 4-3: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung - Prüfung 4c: Spannungsfestigkeit vorisolierter Crimphülsen

Entwurf war:

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01.04.2000 Historisch

E DIN IEC 48B/832/CD:2000-04

Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Meß- und Prüfverfahren - Teil 4-3: Prüfungen mit Spannungsbeanspruchung - Prüfung 4c: Spannungsfestigkeit vorisolierter Crimphülsen (IEC 48B/832/CD:1999)