DIN EN 61189-3:1997-10

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Teil 3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten)

Beziehungen

Enthält:

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25.04.1997 Historisch
EN 61189-3:1997-04
Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten)
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01.04.1997 Historisch
IEC 61189-3:1997-04

Entwurf war:

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01.11.1993 Historisch
E DIN IEC 52(Sec)426:1993-11
IEC 61189-3: Prüfverfahren für Leiterplatten, Prüfung M05: Abschälkraft an flexiblen Leiterplatten im Normalklima (IEC 52(Sec)426:1993)

Ersetzt bzw. ergänzt:

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01.08.2000 Historisch
DIN EN 61189-3:2000-08
Prüfverfahren für Elektromaterialien, Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 3: Prüfverfahren für Verbindungsstrukturen (Leiterplatten) (IEC 61189-3 : 1997 + A1: 1999); Deutsche Fassung EN 61189-3 : 1997 + A1:1999

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.10.1997
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Daniel Failer
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

ur4zv2.wrz2v8QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-418

Referatsassistenz
Anastasia Kin
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

r4r9_r9zr.1z4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-156

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