EN 62374-1:2010/AC:2011-04

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19.11.2010 Aktuell
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Halbleiterbauelemente -- Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

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Halbleiterbauelemente -- Teil 1: Prüfung auf zeitabhängigen dielektrischen Durchbruch (TDDB) bei Isolationsschichten zwischen metallischen Leiterbahnen

Dieses Dokument entspricht:

Europäisch

EN 62374-1:2010/AC:2011-04
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.04.2011
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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