EN 61191-6:2010-04

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Teil 6: Bewertungskriterien für Hohlräume in Lötverbindungen von BGA und LGA und Messmethode

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Enthält:

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14.01.2010 Aktuell
IEC 61191-6:2010-01
Elektronikaufbauten auf Leiterplatten - Teil 6: Bewertungskriterien für Hohlräume in Lötverbindungen von BGA und LGA und Messmethode - Teil 6: Bewertungskriterien für Hohlräume in Lötverbindungen von BGA und LGA und Messmethode

Entwurf war:

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16.10.2009 Historisch
FprEN 61191-6:2009-10
Elektronikaufbauten auf Leiterplatten - Teil 6: Bewertungskriterien für Hohlräume in Lötverbindungen von BGA und LGA und Messmethode

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 61191-6:2010-04

IEC 61191-6:2010-01
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
16.04.2010
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 682
Kontakt
Referat
Daniel Failer
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

ur4zv2.wrz2v8QAuv.t53

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

Themen

Elektronik-Bauelemente
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