EN 60749-35:2006-09

Standards
putilov_denis / Fotolia

Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik

Beziehungen

Enthält:

Standards
putilov_denis / Fotolia
18.07.2006 Aktuell
IEC 60749-35:2006-07
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik

Entwurf war:

Standards
putilov_denis / Fotolia
15.07.2005 Historisch
prEN 60749-35:2005-07
Standards
putilov_denis / Fotolia
28.04.2006 Historisch
prEN 60749-35:2006-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 35: Ultraschallmikroskopie für kunststoffverkappte Bauelemente der Elektronik

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 60749-35:2006-09

IEC 60749-35:2006-07
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
20.09.2006
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

Themen

Elektronik-Bauelemente
DKE Newsletter-Seitenbild
sdx15 / stock.adobe.com

Mit unserem DKE Newsletter sind Sie immer top informiert! Monatlich ...

  • fassen wir die wichtigsten Entwicklungen in der Normung kurz zusammen
  • berichten wir über aktuelle Arbeitsergebnisse, Publikationen und Entwürfe
  • informieren wir Sie bereits frühzeitig über zukünftige Veranstaltungen
Ich möchte den DKE Newsletter erhalten!

Werden Sie aktiv!

Ergebnisse rund um die Normung

Folgen Sie uns
© 2024 DKE – VDE Verband der Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik e.V.