EN 60749-27:2006-08

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

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19.07.2006 Aktuell
IEC 60749-27:2006-07
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

Entwurf war:

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31.03.2006 Historisch
prEN 60749-27:2006-03
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren -- Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

Ersetzt bzw. ergänzt:

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09.11.2012 Aktuell
EN 60749-27:2006/A1:2012-11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 27: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Machine Model (MM)

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 60749-27:2006-08

IEC 60749-27:2006-07
Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
25.08.2006
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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