EN 60749-8:2003-06

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 8: Dichtheit

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Enthält:

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30.08.2002 Historisch
IEC 60749-8:2002-08
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 8: Dichtheit - Teil 8: Dichtheit

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 60749-8:2003-06

IEC 60749-8:2002-08

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
20.06.2003
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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