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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 11: Rascher Temperaturwechsel - Zweibäderverfahren

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07.12.2001 Historisch

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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren

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17.11.2000 Historisch

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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren

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20.01.1999 Historisch

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Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren

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12.04.2002 Aktuell

IEC 60749-11:2002-04

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