EN 60749-2:2002-08

Standards
putilov_denis / Fotolia

Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 2: Niedriger Luftdruck

Beziehungen

Enthält:

Standards
putilov_denis / Fotolia
12.04.2002 Aktuell
IEC 60749-2:2002-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck - Teil 2: Niedriger Luftdruck

Entwurf war:

Standards
putilov_denis / Fotolia
18.01.2002 Historisch
prEN 60749-2:2002-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck

Dieses Dokument entspricht:

EuropäischInternational

EN 60749-2:2002-08

IEC 60749-2:2002-04

Dokumentart
Europäische Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
13.08.2002
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

DKE Newsletter-Seitenbild
sdx15 / stock.adobe.com

Mit unserem DKE Newsletter sind Sie immer top informiert! Monatlich ...

  • fassen wir die wichtigsten Entwicklungen in der Normung kurz zusammen
  • berichten wir über aktuelle Arbeitsergebnisse, Publikationen und Entwürfe
  • informieren wir Sie bereits frühzeitig über zukünftige Veranstaltungen
Ich möchte den DKE Newsletter erhalten!

Werden Sie aktiv!

Ergebnisse rund um die Normung