IEC 62024-1:2008-02

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Induktive Hochfrequenz-

Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich

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15.02.2008 Historisch
51/915/RVD:2008-02

Ersetzt bzw. ergänzt:

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09.07.2008 Historisch
IEC 62024-1:2008/COR1:2008-07
Corrigendum 1: Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich
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13.12.2017 Aktuell
IEC 62024-1:2017-12
Induktive Hochfrequenz-Bauelemente - Elektrische Eigenschaften und Messmethoden - Teil 1: Chipinduktivitäten im Nanohenry-Bereich

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 62024-1:2008-02
Dokumentart
Publikation
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
25.02.2008
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 625
Kontakt
Referat
Daniel Failer
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

ur4zv2.wrz2v8QAuv.t53

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

3r8z4r.v292vz3r4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-327

Themen

Elektronik-Bauelemente
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