IEC 62374:2007-03

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Halbleiterbauelemente -

Prüfung des zeitabhängigen dielektrischen Durchbruchs (TDDB) für dielektrische Gate-Schichten

Beziehungen

Entwurf war:

Standards
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19.01.2007 Historisch
47/1896/RVD:2007-01

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 62374:2007-03

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
29.03.2007
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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