IEC 60749-25:2003-07

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Halbleiterbauelemente -

Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel Teil 25: Zyklische Temperaturwechsel

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Entwurf war:

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20.06.2003 Historisch
47/1706/RVD:2003-06

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 60749-25:2003-07
Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
18.07.2003
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Stipe Mandic
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

9_z6v.3r4uztQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-573

Referatsassistenz
Betina Vlonga
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

sv_z4r.A254xrQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-431

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Elektronik-Bauelemente
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