IEC 61788-10:2002-07

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Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierte Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierte Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren

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29.03.2002 Historisch 2 0
90/122/FDIS:2002-03

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15.08.2006 Aktuell 2 0
IEC 61788-10:2006-08
Supraleitfähigkeit - Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von Verbundsupraleitern bestimmt durch ein Widerstandsmessverfahren

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC 61788-10:2002-07

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
09.07.2002
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Ansprechpartner

Referat
Dipl.-Ing. Stefan Emde
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

9_vwr4.v3uvQAuv.t53 Tel. +49 69 6308-257

Referatsassistenz
Gabriele Gulis
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

xrs8zv2v.x@2z9QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-357

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