IEC 61788-10:2002-06
Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierte Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren Teil 10: Messung der kritischen Temperatur - Kritische Temperatur von NbTi-, Nb3Sn- und Bi-basierte Kupferoxid-Verbundsupraleitern mit einem Widerstandsverfahren