IEC 61967-6:2002-06

Platine unter Mikroskop im Labor
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Integrierte Schaltkreise -

Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren

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22.03.2002 Historisch 8 0
47A/645/FDIS:2002-03

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30.08.2010 Aktuell 9 0
IEC 61967-6/Corrigendum1:2010-08
Corrigendum 1: Integrierte Schaltkreise - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 6: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Magnetsondenverfahren

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