IEC 61967-4:2002-04

Platine unter Mikroskop im Labor
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Integrierte Schaltungen -

Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz Teil 4: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Messung mit direkter 1-Ohm-/150-Ohm-Kopplung Teil 4: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Messung mit direkter 1-Ohm-/150-Ohm-Kopplung

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18.01.2002 Historisch 7 0
47A/636/FDIS:2002-01

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30.06.2017 Aktuell 2 0
IEC 61967-4:2002/Corrigendum1:2017-06
Korrigendum 1: Integrierte Schaltungen - Messung von elektromagnetischen Aussendungen im Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHz - Teil 4: Messung der leitungsgeführten Aussendungen - Messung mit direkter 1-Ohm-/150-Ohm-Kopplung

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