IEC 60747-5-3:1997/A1:2002-03

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Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente - Messverfahren Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente - Messverfahren

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21.12.2001 Historisch 1 0
47E/210/FDIS:2001-12
Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-3: Optoelektronische Bauelemente - Messverfahren

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Publikation
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.03.2002
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium

Ansprechpartner

Referat
Dipl.-Ing. (FH) Betriebswirt VWA Dieter Hinterwäller
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

uzv_v8.yz4_v8Brv22v8QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-280

Referatsassistenz
Silvia Muszter
Stresemannallee
60596 Frankfurt am Main

9z2Azr.3@9E_v8QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-232

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